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X光管是波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF)最核心的部件之一,影響光管性能的主要參數(shù)有功率、電壓、電流、鈹窗膜厚度、陽(yáng)極靶材、陰極燈絲等,其性能很大程度影響了儀器的最終性能。在高壓下,電子從燈絲表面逸出,并在電場(chǎng)作用下打到陽(yáng)極靶材上,激發(fā)出初級(jí)X射線。在這個(gè)過程中,電子動(dòng)能...
ROHS測(cè)試分析儀是電子制造行業(yè)環(huán)保合規(guī)檢測(cè)的核心設(shè)備,其中基于XRF技術(shù)的ROHS測(cè)試分析儀,憑借其快速、無(wú)損、便捷的優(yōu)勢(shì),成為電子制造企業(yè)應(yīng)用廣泛的檢測(cè)設(shè)備之一。深入了解XRF技術(shù)原理及其在電子制造中的應(yīng)用,對(duì)提升檢測(cè)效率、保障產(chǎn)品合規(guī)具有重要意義。XRF技術(shù)即X射線熒光光譜技術(shù),其核心原理是利用X射線照射樣品,使樣品中的原子發(fā)生能級(jí)躍遷,外層電子從高能級(jí)向低能級(jí)躍遷時(shí),會(huì)釋放出具有特定能量的熒光X射線,不同元素釋放的熒光X射線能量不同,通過檢測(cè)熒光X射線的能量和強(qiáng)度,即...
ROHS2.0十項(xiàng)檢測(cè)儀是針對(duì)ROHS2.0指令新增限制物質(zhì)優(yōu)化升級(jí)的檢測(cè)設(shè)備,可實(shí)現(xiàn)對(duì)十種有害物質(zhì)的快速、精準(zhǔn)檢測(cè),廣泛應(yīng)用于電子電氣產(chǎn)品的環(huán)保合規(guī)檢測(cè)。高效使用該設(shè)備,不僅能提升檢測(cè)效率,還能保障檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,降低檢測(cè)成本,以下是其核心使用步驟與實(shí)用技巧。高效使用ROHS2.0十項(xiàng)檢測(cè)儀的核心步驟可分為前期準(zhǔn)備、樣品處理、儀器校準(zhǔn)、檢測(cè)操作、數(shù)據(jù)處理五個(gè)環(huán)節(jié)。前期準(zhǔn)備主要包括儀器的開機(jī)檢查、環(huán)境調(diào)試和耗材檢查,確保儀器處于正常工作狀態(tài),環(huán)境條件符合檢測(cè)要求,避免環(huán)境因...
環(huán)保領(lǐng)域常用的鄰苯4P特指歐盟RoHS、REACH等法規(guī)優(yōu)先管控的4種鄰苯二甲酸酯類增塑劑:鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP)、鄰苯二甲酸二丁酯(DBP)、鄰苯二甲酸丁芐酯(BBP)、鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP),具有內(nèi)分泌干擾、生殖毒性等危害,是環(huán)保檢測(cè)的重點(diǎn)管控污染物。其檢測(cè)儀的核心關(guān)鍵技術(shù)可分為以下6大類:一、復(fù)雜基質(zhì)樣品前處理與凈化關(guān)鍵技術(shù)環(huán)保檢測(cè)樣品(塑料、土壤、水體、食品接觸材料、固廢等)基質(zhì)復(fù)雜,前處理環(huán)節(jié)貢獻(xiàn)了60%以上的檢測(cè)誤差,是核心前置技術(shù):適...
在高純度材料的分析中,熔融硅微粉(又稱為熔融硅粉或硅微粉)作為一種重要的高性能材料,廣泛應(yīng)用于電子、光伏、化工等行業(yè)。為了確保其質(zhì)量和性能,進(jìn)行準(zhǔn)確的化學(xué)元素分析至關(guān)重要。熔融硅微粉的化學(xué)元素分析儀器選擇時(shí),需考慮以下幾個(gè)方面:一、分析需求元素種類:確定需要分析的元素類型,包括主要成分(如Si、O)和雜質(zhì)元素(如Fe、Al、Ca、Mg、P等)。靈敏度與檢測(cè)限:選擇能夠滿足所需靈敏度的儀器,以便準(zhǔn)確檢測(cè)微量雜質(zhì)元素。分析準(zhǔn)確性:需保證儀器的準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性,確保能通過標(biāo)準(zhǔn)樣品驗(yàn)證...
剛接觸材料表征時(shí),我們可能會(huì)被一堆縮寫繞暈:XRD、XPS、AFM、SEM、TEM……在這些表征方法里,XRF也是一個(gè)很常見的名字:它主要用來(lái)做什么?它為什么在實(shí)驗(yàn)室和工廠里都這么常見?它和別的表征方法相比,優(yōu)勢(shì)又在哪里?如果說XPS是在看材料“表面最外層”的元素狀態(tài),那么XRF更像是在快速核對(duì)材料“整體成分清單”。這一篇,我們一起快速認(rèn)識(shí):XRF到底強(qiáng)在哪?01|什么是XRF?X射線熒光光譜(X-RayFluorescence,XRF),是一種利用X射線激發(fā)樣品中原子的內(nèi)層...