輝光放電光譜儀

質量控制、新材料研發的工具 

表面處理工藝 表面涂層工藝 經材料和工藝處理過的近表面 可準確分析化學成分和涂層厚度 可分析非導電材料和涂層，如玻璃、陶瓷、類金剛石、防腐涂層，唯YI的非導體、半導體深度剖面快速分析手段

GDOES儀器提供了一種對具有層狀結構的材料快速深度剖面分析的手段

相對于電鏡、俄歇等微區分析技術而言，GDOES具備大區域分析能力，，可完整表征材料的宏觀組分

材料前處理、制備技術簡單、快速，分析效率高  

GDOES應用的領域，典型領域如下：

·金屬工業·汽車工業與汽車供應商·鋼鐵工業·電鍍工業·精密機械工業·航空航天部門·半導體材料·光伏產業

·PVD/CVD·制藥工業(載體、人GONG骨GE/關節.….)·電子工業·塑料工業·玻璃陶瓷工業·表面技術·  研發大學

輝光放電光譜儀應用

測試元素：氫(H)-鈾(U),~76個元素

含量范圍：0.Xppm級至%含量

測試深度：表面(納米)至幾百個微米

測試精度：含量-RSD優于2%深度-RSD優于5%

涂鍍層種類：-PVD/CVD/ECD-電鍍(鋅、銅、鎳、鉻、鈦、錫等各類金屬涂鍍層)-磷化、鈍化等各類化學層-薄膜電池/柔性電池(CIGS,LIB...),-非晶硅、碲化鎘、銅鋅錫硫化物等-類金剛石涂層-熱處理(滲碳、滲氮、共滲等….)-真空蒸鍍、磁控濺射鍍膜

適合樣品：-導體材料表面各類涂鍍層(導體或非導體)-非導體材料表面各類涂鍍層(導體或非導體)-薄膜/柔性材料表面各類涂鍍層

測試樣品形態：-固態：平面、曲面

薄膜

空氣中易氧化膜(可提供特殊封裝樣品倉)

使用GDOES輝光放電光譜儀的分析優點

·精確的分析性能：(幾乎)元素周期表的所有元素都可以分析，包括氫、氧、氮、碳、

氟、氯等

·低檢測限：低至0.Xppm

·重現性好

·可分析的極薄層(納米級)

·可分析的導電和非導電樣品

·無需費力制備樣品

·分析時間短→結果快

·易于操作的儀器和軟件-WinGDOES

·極低運行成本

GDOES以優異的性價比為固體材料的深度剖面和元素含量分析提供高性能技術。某種角度上，GDOES是GDMS、AUGER、XRF、SEM、SNMS、SIMS等現有方法的一個很好的替代品，且成本顯著降低。